受託試験サービス
試験する試料をお預かりし、
試験の実施と報告書の作成を行います。
装置貸出サービス
お客さまご自身で
試験装置を使用していただけます。
保有する試験装置の一部を紹介します。
フリックしてご覧ください。
| 試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
|---|---|---|---|
| 低圧短絡試験装置 | 試験電圧：単相100V/200V 三相100V/200V/400V 短絡電流：最大10kA |
JEM 1460 | |
| 碍子用高周波発生装置 | 所要電源容量：約2kVA 出力電圧：最大200kV 出力周波数：150～200kHz |
JIS C 3801-1 | |
| コロナ試験装置 | 印加電圧：0～50kV | JEC 0401 JEC 0201 |
|
| 衝撃電圧発生装置 | 出力波高値：100～500kV（保証設定電圧値） 出力波形：1.0×40μs、1.2×50μs |
JIS C 2110-3 JEC 0301 |
|
| 絶縁耐力試験装置 | 出力電圧：10～200kV 定格容量：50kVA |
JIS T 8010 | |
| 商用周波耐電圧 試験装置 |
出力電圧：0～50kV 定格容量：10kVA |
JIS T 8010 | |
| 耐トラッキング 試験装置 |
印加電圧：0～5,000V 噴霧量：0～2mm/min |
JIS C 2134 | |
| ヒートサイクル 試験装置 |
発生電流：1.0～1,600A 記録温度計付属 |
JIS C 5402-5-1 | |
| 注水耐圧試験装置 | 出力電圧：0～200kV 注水量：3mm/min以上 |
－ | |
| 防音室／騒音計 | A特性：28～130dB C特性：33～130dB 周波数範囲：20～8,000Hz |
JIS C 1509-1 | |
| 交流計器試験装置 | 試験可能範囲（単相～三相）：0～750V、0～300A | － | |
| 三相電力量計試験装置 | RC法 自動測定式誤差試験台 試験可能範囲（単2～三相3線）：100～200V、5～120A |
JIS C 1271-1（一部） | |
| 電力量計精密試験装置 | RC法 自動測定式誤差試験台 試験可能範囲（単2～三相4線）：100～254V、5～120A |
－ | |
| 交流標準 電圧電流発生装置 |
出力：10～1,000V、0.1～50A 精度：±0.1% |
－ |
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| 試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
|---|---|---|---|
| 複合サイクル試験装置 | 試験槽寸法:60cm×90cm 調整範囲:1.5±0.5ml/h（80cm2） |
JIS Z 2371 JIS H 8502 |
|
| ガス腐食試験装置 | ガス種類：亜硫酸ガス（SO2） ガス濃度：0.1～200ppm |
JIS H 8502 | |
| 恒温恒湿槽 | 温度幅：-40～+120℃ 湿度幅：10～95% 槽内大きさ：W1,400×H1,900×D1,400mm |
－ | |
| サンシャイン ウェザーメーター |
デューサイクル（結露サイクル）対応 湿度：30～70％ 連続運転：78h、60h |
JIS B 7753 JIS D 0205 JIS E 4037 |
|
| メタリング ウェザーメーター |
照度：650～2,000w/m2 温度： 30～85℃（照射）/5～100℃（暗黒） 湿度： 30～70％（照射）/50～95％（暗黒） 有効照射面：440×180mm |
－ | |
| 振動試験装置 1 | 積載可能重量：140kg 振動周波数：5～2,500Hz 最大変位：40mmp-p 振動台寸法：400×400mm |
JIS C 60068-2-6 | |
| 振動試験装置 2 | 積載可能重量：500kg 振動周波数：5～100Hz 最大変位：51mmp-p 振動台寸法：1,000×1,000mm |
JIS C 60068-2-6 | |
| 冷熱試験装置 | 冷水槽：-20℃～常温 温水槽：常温～100℃ |
JIS C 3801-3 | |
| ギヤー式劣化試験装置 | 熱風循環式オーブン 試験温度：40～200℃ |
JIS K 6257 |
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| 試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
|---|---|---|---|
| 衝撃試験装置 | 最大衝撃加速度：300G（2940m/s2） 搭載重量：150kg |
JIS Z 0202 JIS E 3015 |
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| 万能材料試験装置 | 最大荷重：300kN | JIS B 7721 JIS Z 2241 |
|
| X線CT 検査装置 |
|
－ | |
| 卓上型 蛍光X線分析計 |
試料形状：最大W70×H155×D320mm 分析可能元素：Al（Z=13）～U（Z=92） |
－ | |
| デジタル マイクロスコープ |
倍率：20～2,000倍 | － | |
| 超深度マルチ アングルレンズ |
倍率：30～5,000倍 | － | |
| 卓上走査型 電子顕微鏡（SEM） |
光学顕微鏡倍率：3～16倍 電子顕微鏡倍率：80～100,000倍 分解能：14nm 試料ｻｲｽﾞ：100×100mm,高さ：40mm 元素分析装置搭載 |
－ |
技術試験センターは、
これまで培ってきた技術や知見を活かし、
皆様へ受託試験や受託不具合調査サービス等を行っています。
ぜひ、お気軽にお問合せください。
