受託試験サービス
試験する試料をお預かりし、
試験の実施と報告書の作成を行います。
装置貸出サービス
お客さまご自身で
試験装置を使用していただけます。
保有する試験装置の一部を紹介します。
フリックしてご覧ください。
試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
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低圧短絡試験装置 | 試験電圧:単相100V/200V 短絡電流:最大10kA三相100V/200V/380V |
JEM 1460 | |
碍子用高周波発生装置 | 所要電源容量:約2kVA 出力電圧:最大200kV 出力周波数:150〜200kHz |
JIS C 3801-1 | |
コロナ試験装置 | 印加電圧:0〜50kV | JEC 0401 JEC 0201 |
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衝撃電圧発生装置 | 出力波高値:100K〜400KV(保証設定電圧値) 出力波形:1.0×40μs、1.2×50μs※40〜100KV(試験可能電圧値) |
JIS C 2110-3 JEC 0301 |
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絶縁耐力試験装置 | 出力電圧:10〜200kV 定格容量:50kVA |
JIS T 8010 | |
商用周波耐電圧 試験装置 |
出力電圧:0〜50kV 定格容量:10kVA |
JIS T 8010 | |
耐トラッキング 試験装置 |
印加電圧:0〜5,000V 噴霧量:0〜2mm/min |
JIS C 2134 | |
ヒートサイクル 試験装置 |
発生電流:1.0〜1,600A 記録温度計付属 |
JIS C 5402-5-1 | |
注水耐圧試験装置 | 出力電圧:0〜200kV 注水量:3mm/min以上 |
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交流計器試験装置 | 試験可能範囲(単相〜三相):0〜750V、0〜300A | − | |
三相電力量計試験装置 | RC法 自動測定式誤差試験台 試験可能範囲(単2〜三相3線):100〜200V、5〜120A |
JIS C 1271-1(一部) | |
電力量計精密試験装置 | RC法 自動測定式誤差試験台 試験可能範囲(単2〜三相4線):100〜254V、5〜120A |
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交流標準 電圧電流発生装置 |
出力:10〜1,000V、0.1〜50A 精度:±0.1% |
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電源品質アナライザ | 電圧測定:600.00 Vrms, トランジェント測定6.0000 kVpeak 電流測定:AC 500.00 mA〜5.0000 kAまで (測定範囲は使用センサによる) 電力測定:300.00 W〜3.0000 MW (使用する電圧, 電流レンジにより自動的に決定) |
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試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
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複合サイクル試験装置 | 試験槽寸法:60cm×90cm 調整範囲:1.5±0.5ml/h(80cm2) |
JIS Z 2371 JIS H 8502 |
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ガス腐食試験装置 | ガス種類:亜硫酸ガス(SO2) ガス濃度:0.1〜200ppm |
JIS H 8502 | |
恒温恒湿槽 | 温度幅:-40〜+120℃ 湿度幅:10〜95% 槽内大きさ:W1,400×H1,900×D1,400mm |
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恒温恒湿槽(小) | 温度幅:-40~+100℃ 湿度幅:20~98% 槽内大きさ:W500×H750×D600mm |
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サンシャイン ウェザーメーター |
デューサイクル(結露サイクル)対応 湿度:30〜70% 連続運転:78h、60h |
JIS B 7753 JIS D 0205 JIS E 4037 |
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メタリング ウェザーメーター |
照度:650〜2,000w/m2 温度: 30〜85℃(照射)/5〜100℃(暗黒) 湿度: 30〜70%(照射)/50〜95%(暗黒) 有効照射面:440×180mm |
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振動試験装置 1 | 積載可能重量:140kg 振動周波数:5〜2,500Hz 最大変位:40mmp-p 振動台寸法:400×400mm |
JIS C 60068-2-6 | |
振動試験装置 2 | 積載可能重量:500kg 振動周波数:5〜100Hz 最大変位:51mmp-p 振動台寸法:1,000×1,000mm |
JIS C 60068-2-6 | |
冷熱試験装置 | 冷水槽:-20℃〜常温 温水槽:常温〜100℃ |
JIS C 3801-3 | |
ギヤー式劣化試験装置 | 熱風循環式オーブン 試験温度:40〜200℃ |
JIS K 6257 | |
防音室/騒音計 | A特性:28〜130dB C特性:33〜130dB 周波数範囲:20〜8,000Hz |
JIS C 1509-1 |
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試験装置名 | 性能 | 対応規格例 | |
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衝撃試験装置 | 最大衝撃加速度:300G(2940m/s2) 搭載重量:150kg |
JIS Z 0202 JIS E 3015 |
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万能材料試験装置 | 最大荷重:300kN | JIS B 7721 JIS Z 2241 |
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X線CT 検査装置 |
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卓上型 蛍光X線分析計 |
試料形状:最大W70×H155×D320mm 分析可能元素:Al(Z=13)〜U(Z=92) |
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デジタル マイクロスコープ |
倍率:20〜2,000倍 | − | |
超深度マルチ アングルレンズ |
倍率:30〜5,000倍 | − | |
卓上走査型 電子顕微鏡(SEM) |
光学顕微鏡倍率:3〜16倍 電子顕微鏡倍率:80〜100,000倍 分解能:14nm 試料サイズ:100×100mm,高さ:40mm 元素分析装置搭載 |
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サーモグラフィーカメラ | 画素数:1024×768 測定温度範囲:-40℃〜2,000℃ |
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ハイスピードカメラ | 画素数:1024×1024 最高撮影速度:2,000fps(フルフレーム) :170,000fps(分割フレーム) |
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技術試験センターは、
これまで培ってきた技術や知見を活かし、
皆様へ受託試験や受託不具合調査サービス等を行っています。
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